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無錫冠亞制冷加熱系統(tǒng)性能*，高精度、智能型溫度控制，非常寬的溫度控制范圍，從-120℃~350℃，適合多數(shù)企業(yè)恒溫控制需求。高低溫循環(huán)裝置,一體機(jī)

無錫冠亞制冷加熱系統(tǒng)性能*，高精度、智能型溫度控制，非常寬的溫度控制范圍，從-120℃~350℃，適合多數(shù)企業(yè)恒溫控制需求。冷熱一體機(jī),冷卻恒溫裝置。

半導(dǎo)體集成電路icChiller,高低溫測試設(shè)備的典型應(yīng)用： 適合元器件測試用設(shè)備，在用于惡劣環(huán)境的半導(dǎo)體電子元件的制造中，IC封裝組裝和工程和生產(chǎn)的測試階段包括在溫度（-85℃至+ 250℃）下的電子冷熱測試和其他環(huán)境測試模擬。

半導(dǎo)體集成電路Chiller 控流量 制冷加熱的典型應(yīng)用： 適合元器件測試用設(shè)備，在用于惡劣環(huán)境的半導(dǎo)體電子元件的制造中，IC封裝組裝和工程和生產(chǎn)的測試階段包括在溫度（-85℃至+ 250℃）下的電子冷熱測試和其他環(huán)境測試模擬。

半導(dǎo)體和集成電路器件Chiller, 可定制的典型應(yīng)用： 適合元器件測試用設(shè)備，在用于惡劣環(huán)境的半導(dǎo)體電子元件的制造中，IC封裝組裝和工程和生產(chǎn)的測試階段包括在溫度（-85℃至+ 250℃）下的電子冷熱測試和其他環(huán)境測試模擬。

半導(dǎo)體功率器件測試Chiller,元器件行業(yè)測試的典型應(yīng)用： 適合元器件測試用設(shè)備，在用于惡劣環(huán)境的半導(dǎo)體電子元件的制造中，IC封裝組裝和工程和生產(chǎn)的測試階段包括在溫度（-85℃至+ 250℃）下的電子冷熱測試和其他環(huán)境測試模擬。